Shimadzu 感應耦合電漿放射光譜儀 ICPE-9820

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Shimadzu 感應耦合電漿放射光譜儀 ICPE-9820

高效率與簡易分析兼顧，搭載先進CCD偵測器。省去傳統Multi-type型ICP-OES中因吸收波長選擇文堤造成的大量資料處理。特殊設計使氬氣消耗量減半。軟體操作簡易節省教育訓練成本與時間，讓人員更容易上手。

產品諮詢

產品規格

一、主機系統：
1. 需可於測量波長範圍內(167-800nm)同時間擷取樣品中元素之所有波長光譜數值。
2. 電漿觀測需為雙向觀測模式(Axial view 與 Radial view)且可由軟體控制切換,Axial view
     觀測模組需可拆卸以對應特殊樣品分析需求；Axial view電漿尾焰採水冷金屬材質之
     錐孔結構進行物理性排除以減少額外氣體損耗。
3. 火炬管需為垂直式機構以提高含鹽類樣品之耐受性，可選擇種類需包含一體型石英材
     質與鋁質內管組裝型兩種以供樣品種類對應。
4. 射頻發生器頻率為27 MHz且最大設定功率可達1.6 kW,並可使用99.95 %之純度氬氣進
    行樣品分析。
5. 分光系統採常規79 line/mm階梯光柵(Echelle grating)，搭配1024 x 1024像素背照式抗溢
    流之電荷耦合(CCD)偵測器，波長解析度(Resolution) 於200 nm位置需可達0.005 nm以避免鄰近波長之光譜干擾。
6. 光學腔需可恆溫控制至38℃且可維持於真空狀態，以維持穩定的分析結果並同時延
    長光學元件使用時限。
7. 進樣系統可自由選擇使用4通道蠕動泵或自然吸力模式對應樣品特性需求。

二、儀器控制軟體：
1. 具最佳樣品分析波長自動選擇與客戶自訂義波長註冊，便於分析條件設定優化。
2. 無論是否為預先選擇之元素或波長皆可於樣品分析完畢後進行數據查閱。
3. 具自動診斷實驗方法輔助檢查是否有潛在干擾可能。
4. 校正功能需包含:背景校正、IEC(內部元素校正)、內標校正、漂移校正、重量校正、
    稀釋校正等功能。
5. 具快速喚醒之節能模式，可於批次樣品分析間將氬氣電漿流量調降至5L/min，避免
    火炬管空燒或關閉電漿後重建檢量線之困擾。
6. 電漿流量參數可以0.5L/min為單位設定，輔助氣體則可以0.05L/min為調整單位，載
     氣流量為0.01L/min為調整單位，三種氣體流量皆需可由軟體控制設定以便樣品分析
     參數之優化。
7. 可於樣品分析後重新增加檢量線濃度點與變更檢量線係數並與以重新計算。

三、附屬配件:
1. 自動進樣器一套並可同時放置60 個以上之樣品管。
2. 冷卻循環水機 1 套：溫度工作範圍15°C~25°C。溫度精確度±0.1°C。
3. 實驗室ICP專用抽風裝置(含施工) ：吸罩入口面量測風速須達0.5m/sec(含)以上。抽氣罩及風管材質皆為不銹鋼。抽氣風機需為 1/4HP 或以上。
4. 電腦 1 套(含螢幕,滑鼠及鍵盤)：中央處理器：Intel Core i3 或以上。記憶體：4G (含) 或以上，硬碟：1TB (含) 以上及光碟機。19 吋液晶螢幕或以上。Windows 10 專業版作業系統 (附版權)。印表機一台。

四、驗收測試：
1. 檢量線線性：
檢量線少 5 點（含）以上，線性相關係數≧0.998。精密度：以標準品連續 10 次檢
測，所得之強度相對標準偏差（RSD%）≦ 5%。
2. Axial 觀測模式強度穩定性測試：
P 178 nm ≦ 1.5%；Pb 220 nm ≦ 1.5%
3. Radial 觀測模式強度穩定性測試：
    P 178 nm ≦ 1.5%；Pb 220 nm ≦ 1.5%
4. Axial 觀測模式背景當量濃度(BEC)測試：
     P 178 nm ≦ 2,000 ppb；Pb 220 nm ≦ 400 ppb
5. Radial 觀測模式背景當量濃度(BEC)測試：
     P 178 nm ≦ 7,000 ppb；Pb 220 nm ≦ 2,500 ppb
五、其它：
1. 交貨期限為自決標次日起，120個日曆天內完成交貨安裝。
2. 驗收時需檢附保固書、原廠出廠證明或相關品質證明文件。
3. 儀器自驗收合格日起保固期一年，並需免費提供8小時以上之系統訓練課程（含原
理、操作、異常排除及維護保養）與操作說明書中英文各一份。

Shimadzu 感應耦合電漿放射光譜儀 ICPE-9820

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